固體薄膜測(cè)試儀與普通光度計(jì)的區(qū)別
固體薄膜測(cè)試儀，測(cè)試平臺(tái)超大倉平臺(tái)式設(shè)計(jì)，平行測(cè)試原理 可以測(cè)試1mm--500mm尺寸的固體，
直接放上測(cè)試平臺(tái)即可，平穩(wěn)，可靠，特別是薄膜件 超薄件 平行放誤差小，方便快捷，準(zhǔn)確。




普通光度計(jì)是垂直測(cè)試，附帶樣品架，樣品架是為放盛液體的器皿擺放，放薄膜或者固體都依賴支架，夾住或者貼住 樣品，這樣存在誤差，另外普通光度計(jì)樣品倉小，放薄膜固體件不能保證樣品垂直，也對(duì)樣品的大小有限制，
 
固體薄膜測(cè)試儀 特點(diǎn)規(guī)格最小 φ1.5mm -500*500mm固體、薄膜、透鏡、平板、手機(jī)攝像頭、建筑玻璃、觸屏行業(yè)、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃構(gòu)件光學(xué)性能的測(cè)定，測(cè)定范圍190-1100nm ；透射比準(zhǔn)確±0.3%T 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度±0.3nm；雜散光≤0.02%T 狹縫可變 1. 2. 4. 5.儀器等級(jí)優(yōu)于GB/T26798-2011 Ⅱ級(jí).
開機(jī)自校；聯(lián)PC操作端；軟件版本UV9.0 win10 64位。